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Duet3D Duet 3 Scanning Z Probe

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Beschreibung

Entdecken Sie die Leistungsfähigkeit des Duet 3 Scanning Z Probes – ein innovatives Tool für schnelle induktive Scans metallischer Bettflächen zur Erstellung eines Punktgitters der Oberfläche für die Mesh-Bed-Kompensation. Der Duet 3 Scanning Z Probe ist eine CAN-FD-verbundene induktive Sensorkarte mit kompatiblen induktiven Leiterplattenspulen. Dank dieser Technologie kann das Punktgitter des Bettes schnell aufgebaut werden, ohne dass eine Bewegung in der Z-Achse erforderlich ist, und einzelne Messungen erfolgen sehr zügig. Zusätzlich wurde ein Beschleunigungssensor auf der Leiterplatte integriert, um die Verwendung des SZP-Boards auch für die Kalibrierung der Input-Shaping-Funktion zu ermöglichen.

Die Integration und Montage eines Duet 3 Scanning Z Probes gestaltet sich einfach, da wir bewusst die Verarbeitungseinheit von der Spule, die als Sensor fungiert, mit einem Flachbandkabel getrennt haben. Dies ermöglicht die freie Platzierung der Sensorkarte, da lediglich die Spule neben der Düse und in der Nähe des Bettes positioniert werden muss.

PRODUKTMERKMALE

  • Prozessor: ATSAMC21G18A
  • Prozessorfeatures: 32-Bit, 48 MHz ARM Cortex M0+, 256 KB Flash, 32 KB RAM
  • Netzwerk/Kommunikation: CAN-FD-Verbindung zur Duet 3 Tool Distribution Board oder Duet 3 Mainboard; Serielle Schnittstelle
  • Scanning-IC: LDC1612
  • Beschleunigungssensor: LIS2DW12
  • Leistungsüberwachung: VIN-Spannungsmessung
  • Eingangsspannung: 5V
  • Stromverbrauch: <200mA

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